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當(dāng)今的模擬和功率半導(dǎo)體技術(shù)（包括 GaN 和 SiC）要求進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，以便限度提高測(cè)量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及限度降低測(cè)試成本。40 多年來(lái)，吉時(shí)利已經(jīng)在關(guān)鍵應(yīng)用中解決了這些問(wèn)題以及其他重要挑戰(zhàn)，這些應(yīng)用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類（例如，晶片驗(yàn)收或已知的良好芯片測(cè)試），以及可靠性。帶有 KTE 7 軟件的吉時(shí)利 S530 系列參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應(yīng)用的出現(xiàn)和需求變化而不斷發(fā)展。S530 可進(jìn)行高達(dá) 200 V 的測(cè)試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進(jìn)行高達(dá) 1100 V 的測(cè)試，與競(jìng)爭(zhēng)解決方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接對(duì)接探測(cè)器和原有探頭卡重新使用的可選系統(tǒng)測(cè)試頭，支持汽車標(biāo)準(zhǔn) IATF-16949 要求的系統(tǒng)級(jí) ISO-17025 引腳校準(zhǔn)，以及從原有的 S600 和 S400 系統(tǒng)進(jìn)行遷移的、最順暢的路徑，具有完整的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)性并提高了速度。540 參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)全自動(dòng)化的 48 引腳參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，適用于高達(dá) 3kV 的功率半導(dǎo)體器件和結(jié)構(gòu)的晶片級(jí)測(cè)試。集成式 S540 已針對(duì)包括碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (G......

吉時(shí)利自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 是靈活的交互式軟件測(cè)試環(huán)境，可用于器件檢定、參數(shù)化測(cè)試、可靠性測(cè)試，甚至簡(jiǎn)單的功能測(cè)試。ACS 支持各種吉時(shí)利儀器和系統(tǒng)、硬件配置和測(cè)試設(shè)置，從用于 QA 實(shí)驗(yàn)室的一些臺(tái)式儀器到集成且基于機(jī)架的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。利用 ACS，用戶可使用自動(dòng)硬件管理工具配置儀器，并快速執(zhí)行測(cè)試，無(wú)需具備編程知識(shí)。下載免費(fèi)試用版軟件

開(kāi)發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。

半導(dǎo)體器件的高速和低電流要求高質(zhì)量、高性能的 I-V 和 C-V 信號(hào)開(kāi)關(guān)。 我們?yōu)榘雽?dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用提供開(kāi)關(guān)解決方案，其中主機(jī)可以支持多達(dá) 2,880 個(gè)通道以及專為半導(dǎo)體應(yīng)用而設(shè)計(jì)的一系列矩陣卡。